Buchumschlag

Revisiting Deep Feature Reconstruction for Logical and Structural Industrial Anomaly Detection

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Patra, Sukanya, Taieb, Souhaib Ben
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Machine Learning
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