Direct measurement of 2DEG states in shallow Si:Sb $δ$-layers

Fuente: arXiv
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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Strand, Frode S., Cooil, Simon P., Campbell, Quinn T., Flounders, John J., Røst, Håkon I., Åsland, Anna Cecilie, Skarpeid, Alv Johan, Stalsberg, Marte P., Hu, Jinbang, Bakkelund, Johannes, Bjelland, Victoria, Preobrajenski, Alexei B., Li, Zheshen, Bianchi, Marco, Miwa, Jill A., Wells, Justin W.
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2024
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