Enhancing Apple's Defect Classification: Insights from Visible Spectrum and Narrow Spectral Band Imaging

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Coello, Omar, Coronel, Moisés, Carpio, Darío, Vintimilla, Boris, Chuquimarca, Luis
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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