Scalable AI Framework for Defect Detection in Metal Additive Manufacturing

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Phan, Duy Nhat, Jha, Sushant, Mavo, James P., Lanigan, Erin L., Nguyen, Linh, Poudel, Lokendra, Bhowmik, Rahul
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Machine Learning Signal Processing
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