Label Critic: Design Data Before Models

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Bassi, Pedro R. A. S., Wu, Qilong, Li, Wenxuan, Decherchi, Sergio, Cavalli, Andrea, Yuille, Alan, Zhou, Zongwei
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2411.02753