FAST drift scan survey for HI intensity mapping: simulation on hunting HI filament with pairwise stacking

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Liu, Diyang, Li, Yichao, Tramonte, Denis, Deng, Furen, Wang, Jiaxin, Wang, Yougang, Zhang, Xin, Chen, Xuelei
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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