High-throughput Screening of Ferrimagnetic Semiconductors With Ultrahigh N$\acute{e}$el Temperature

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Wang, Haidi, Feng, Qingqing, Li, Shuo, Lin, Wei, Zhu, Weiduo, Chen, Zhao, Li, Zhongjun, Liu, Xiaofeng, Li, Xingxing
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Materials Science
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https://arxiv.org/abs/2411.04481