MBL-CPDP: A Multi-objective Bilevel Method for Cross-Project Defect Prediction via Automated Machine Learning

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Chen, Jiaxin, Ding, Jinliang, Tan, Kay Chen, Qian, Jiancheng, Li, Ke
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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