Modeling Extensive Defects in Metals through Classical Potential-Guided Sampling and Automated Configuration Reconstruction

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Shuang, Fei, Liu, Kai, Ji, Yucheng, Gao, Wei, Laurenti, Luca, Dey, Poulumi
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Materials Science
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2411.07367