Degradation mode estimation using reconstructed open circuit voltage curves from multi-year home storage field data

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Figgener, Jan, Bors, Jakob, Kuipers, Matthias, Hildenbrand, Felix, Junker, Mark, Koltermann, Lucas, Woerner, Philipp, Mennekes, Marc, Haberschusz, David, Kairies, Kai-Philipp, Sauer, Dirk Uwe
Format: Preprint
Publié: 2024
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