Probing Charge Dynamics in Amorphous Oxide Semiconductors by Time-of-flight Microwave Impedance Microscopy

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Yu, Jia, Zhou, Yuchen, Wang, Xiao, Ma, Xuejian, Dodabalapur, Ananth, Lai, Keji
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2411.10698