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Probing Charge Dynamics in Amorphous Oxide Semiconductors by Time-of-flight Microwave Impedance Microscopy

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Yu, Jia, Zhou, Yuchen, Wang, Xiao, Ma, Xuejian, Dodabalapur, Ananth, Lai, Keji
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Materials Science
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