Probing the Electronic Structure at the Boundary of Topological Insulators in the $\mathrm{Bi}_2\mathrm{Se}_3$ Family by Combined STM and AFM

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Setescak, Christoph S., Aguilera, Irene, Weindl, Adrian, Kronseder, Matthias, Donarini, Andrea, Giessibl, Franz J.
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2024
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