Probing the Electronic Structure at the Boundary of Topological Insulators in the $\mathrm{Bi}_2\mathrm{Se}_3$ Family by Combined STM and AFM
Fuente:
arXiv
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , , , , |
|---|---|
| Format: | Preprint |
| Veröffentlicht: |
2024
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|