Direct X-Ray Measurements of Strain in Monolayer MoS$_{2}$ from Capping Layers and Geometrical Features

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Neilson, Kathryn, Jaikissoon, Marc, Zakhidov, Dante, Peña, Tara, Salleo, Alberto, Saraswat, Krishna, Pop, Eric
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2411.13658