Parametric study of filament and gap models of resistive switching in TaO$_x$-based devices

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Li, Rongchen, Bai, Yang, Skowronski, Marek
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Applied Physics Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2411.14970