Label Distribution Shift-Aware Prediction Refinement for Test-Time Adaptation

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Jang, Minguk, Chung, Hye Won
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Machine Learning Artificial Intelligence Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2411.15204