How far can bias go? Tracing bias from pretraining data to alignment

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Thaler, Marion, Köksal, Abdullatif, Leidinger, Alina, Korhonen, Anna, Schütze, Hinrich
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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