Traversing the Subspace of Adversarial Patches

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Bayer, Jens, Becker, Stefan, Münch, David, Arens, Michael, Beyerer, Jürgen
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2412.01527