Constant di/dz Scanning Tunneling Microscopy: Atomic Precision Imaging and Hydrogen Depassivation Lithography on a Si(100) - 2 x 1 : H Surface

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Mishra, Richa, Moheimani, S. O. Reza
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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