Critical assessment of contact resistance and mobility in tin perovskite semiconductors

Fuente: arXiv

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Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Zhang, Youcheng, Pecorario, Stefano, Chua, Xian Wei, Ren, Xinglong, Zhao, Cong, Mazlumian, Rozana, Senanayak, Satyaprasad P., Dey, Krishanu, Stranks, Sam, Sirringhaus, Henning
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2024
Soggetti:	Applied Physics
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Accesso online

https://arxiv.org/abs/2412.06591