Critical assessment of contact resistance and mobility in tin perovskite semiconductors

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Zhang, Youcheng, Pecorario, Stefano, Chua, Xian Wei, Ren, Xinglong, Zhao, Cong, Mazlumian, Rozana, Senanayak, Satyaprasad P., Dey, Krishanu, Stranks, Sam, Sirringhaus, Henning
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Applied Physics
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