Critical assessment of contact resistance and mobility in tin perovskite semiconductors

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Zhang, Youcheng, Pecorario, Stefano, Chua, Xian Wei, Ren, Xinglong, Zhao, Cong, Mazlumian, Rozana, Senanayak, Satyaprasad P., Dey, Krishanu, Stranks, Sam, Sirringhaus, Henning
Formato: Preprint
Publicado: 2024
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