APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Wang, Y., He, J., & Yu, S. (2024). CrackESS: A Self-Prompting Crack Segmentation System for Edge Devices.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Wang, Yingchu, Ji He, und Shijie Yu. CrackESS: A Self-Prompting Crack Segmentation System for Edge Devices. 2024.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Wang, Yingchu, et al. CrackESS: A Self-Prompting Crack Segmentation System for Edge Devices. 2024.