Paolozzi, L., Milanesio, M., Moretti, T., Cardella, R., Kugathasan, T., Picardi, A., . . . Iacobucci, G. (2024). Testbeam Characterization of a SiGe BiCMOS Monolithic Silicon Pixel Detector with Internal Gain Layer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Paolozzi, L., et al. Testbeam Characterization of a SiGe BiCMOS Monolithic Silicon Pixel Detector with Internal Gain Layer. 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Paolozzi, L., et al. Testbeam Characterization of a SiGe BiCMOS Monolithic Silicon Pixel Detector with Internal Gain Layer. 2024.
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