Contact Resistance Optimization in MoS${_2}$ Field-Effect Transistors through Reverse Sputtering-Induced Structural Modifications

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Fa, Yuan, Piacentini, Agata, Macco, Bart, Kalisch, Holger, Heuken, Michael, Vescan, Andrei, Wang, Zhenxing, Lemme, Max C.
Format: Preprint
Publié: 2024
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