Adapting Segment Anything Model (SAM) to Experimental Datasets via Fine-Tuning on GAN-based Simulation: A Case Study in Additive Manufacturing

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Tabassum, Anika, Ziabari, Amirkoushyar
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Image and Video Processing
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2412.11381