Adapting Segment Anything Model (SAM) to Experimental Datasets via Fine-Tuning on GAN-based Simulation: A Case Study in Additive Manufacturing

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Tabassum, Anika, Ziabari, Amirkoushyar
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Image and Video Processing
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https://arxiv.org/abs/2412.11381