Buchumschlag

AMI-Net: Adaptive Mask Inpainting Network for Industrial Anomaly Detection and Localization

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Luo, Wei, Yao, Haiming, Yu, Wenyong, Li, Zhengyong
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
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