Circuits-Informed Machine Learning Technique for Blind Open-Loop Digital Calibration of SAR ADC

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Bhanushali, Sumukh, Maiti, Debnath, Bikkina, Phaneendra, Mikkola, Esko, Sanyal, Arindam
Format: Preprint
Publié: 2024
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