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Circuits-Informed Machine Learning Technique for Blind Open-Loop Digital Calibration of SAR ADC

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Bhanushali, Sumukh, Maiti, Debnath, Bikkina, Phaneendra, Mikkola, Esko, Sanyal, Arindam
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2024
Schlagworte:	Signal Processing
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