Artificial Neural Network based Modelling for Variational Effect on Double Metal Double Gate Negative Capacitance FET

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Pathak, Yash, Goswami, Laxman Prasad, Malhotra, Bansi Dhar, Chaujar, Rishu
Format: Preprint
Publié: 2024
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