Identifying topological excitonic insulators via bulk-edge correspondence

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Qu, Hongwei, Zhang, Zeying, Li, Yuanchang
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Strongly Correlated Electrons Mesoscale and Nanoscale Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2412.14600