Few-shot Metric Domain Adaptation: Practical Learning Strategies for an Automated Plant Disease Diagnosis

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Kudo, Shoma, Kagiwada, Satoshi, Iyatomi, Hitoshi
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition Machine Learning
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https://arxiv.org/abs/2412.18859