Emittance Minimization for Aberration Correction II: Physics-informed Bayesian Optimization of an Electron Microscope

Fuente: arXiv

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Ma, Desheng, Zeltmann, Steven E., Zhang, Chenyu, Baraissov, Zhaslan, Shao, Yu-Tsun, Duncan, Cameron, Maxson, Jared, Edelen, Auralee, Muller, David A.
Format:	Preprint
Publié:	2024
Sujets:	Instrumentation and Detectors Materials Science Accelerator Physics
Accès en ligne:	Acceder al recurso
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Internet

https://arxiv.org/abs/2412.20356