Emittance Minimization for Aberration Correction I: Aberration correction of an electron microscope without knowing the aberration coefficients

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ma, Desheng, Zeltmann, Steven E., Zhang, Chenyu, Baraissov, Zhaslan, Shao, Yu-Tsun, Duncan, Cameron, Maxson, Jared, Edelen, Auralee, Muller, David A.
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Instrumentation and Detectors Materials Science Accelerator Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2412.20358