Predicting IoT Device Vulnerability Fix Times with Survival and Failure Time Models

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	A, Carlos A Rivera, Chen, Xinzhang, Shaghaghi, Arash, Batista, Gustavo, Kanhere, Salil
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Cryptography and Security
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https://arxiv.org/abs/2501.02520