Phenomenological modeling of the stress-free two-way shape-memory effect in semi-crystalline networks: Formulation, numerical simulation, and experimental validation

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Arricca, Matteo, Inverardi, Nicoletta, Pandini, Stefano, Toselli, Maurizio, Messori, Massimo, Auricchio, Ferdinando, Scalet, Giulia
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!