Impact of impurities on leakage current induced by High-Energy Density Pulsed Laser Annealing in Si diodes

Fuente: arXiv

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Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Monflier, Richard, Daubriac, Richard, Haned, Mahmoud, Tabata, Toshiyuki, Olivier, François, Imbernon, Eric, Italia, Markus, La Magna, Antonino, Mazzamuto, Fulvio, Boninelli, Simona, Cristiano, Fuccio, Pereira, Elena Bedel
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2025
Soggetti:	Materials Science Applied Physics
Accesso online:	Acceder al recurso
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Descrizione
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