Sequential PatchCore: Anomaly Detection for Surface Inspection using Synthetic Impurities

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Mao, Runzhou, Fulir, Juraj, Garth, Christoph, Gospodnetić, Petra
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition Graphics Machine Learning 68U05, 68U10 I.2.1; I.2.10; I.4.6; I.4.9; I.4.7; I.3.8; I.3.6; I.3.5; I.3.7; I.5.4; J.6; J.7
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https://arxiv.org/abs/2501.09579