Effect of Te doping in GeSe parent thick film by experimental in situ temperature-dependent structural investigation

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Armand, P., Escalier, R., Silly, G., Lizion, J., Piarristeguy, A.
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2501.11373