Effective Defect Detection Using Instance Segmentation for NDI

Fuente: arXiv
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Autori principali: Rahman, Ashiqur, Seethi, Venkata Devesh Reddy, Yunker, Austin, Kral, Zachary, Kettimuthu, Rajkumar, Alhoori, Hamed
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
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