Overlay-aware Variation Study of Flip FET and Benchmark with CFET

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Peng, Wanyue, Lu, Haoran, Jiang, Jingru, Sun, Jiacheng, Li, Ming, Wang, Runsheng, Wu, Heng, Huang, Ru
Format: Preprint
Publié: 2025
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