Fine-Grained 1-Day Vulnerability Detection in Binaries via Patch Code Localization

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Dong, Chaopeng, Guo, Jingdong, Yang, Shouguo, Xiao, Yang, Li, Yi, Li, Hong, Li, Zhi, Sun, Limin
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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