Buchumschlag

Fine-Grained 1-Day Vulnerability Detection in Binaries via Patch Code Localization

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Dong, Chaopeng, Guo, Jingdong, Yang, Shouguo, Xiao, Yang, Li, Yi, Li, Hong, Li, Zhi, Sun, Limin
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Cryptography and Security
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