The Influence of V-Defects, Leakage, and Random Alloy Fluctuations on the Carrier Transport in Red InGaN MQW LEDs

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Huang, Huai-Chin, Chen, Shih-Min, Weisbuch, Claude, Speck, James S., Wu, Yuh-Renn
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!