Exploring Few-Shot Defect Segmentation in General Industrial Scenarios with Metric Learning and Vision Foundation Models

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Liu, Tongkun, Li, Bing, Jin, Xiao, Shi, Yupeng, Li, Qiuying, Wei, Xiang
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Ejemplares similares