Random Telegraph Noise of MIS and MIOS Silicon Nitride memristors at different resistance states

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Vasileiadis, N, Loukas, P, Mavropoulis, A, Normand, P, Karafyllidis, I, Sirakoulis, G Ch, Dimitrakis, P
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Applied Physics
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2502.02994