Mutual control of critical temperature, residual resistance ratio, stress, and roughness for sputtered Nb films

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Zikiy, E. V., Stepanov, I. A., Bukatin, S. V., Baklykov, D. A., Teleganov, M. I., Krivko, E. A., Smirnov, N. S., Ryzhikov, I. A., Bychkov, S. P., Kotenkov, S. A., Korshakov, N. D., Agafonova, J. A., Rodionov, I. A.
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science Superconductivity Applied Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2502.03299