Improving the Perturbation-Based Explanation of Deepfake Detectors Through the Use of Adversarially-Generated Samples

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Tsigos, Konstantinos, Apostolidis, Evlampios, Mezaris, Vasileios
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Cryptography and Security
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https://arxiv.org/abs/2502.03957