Buchumschlag

Characterization and Mitigation of ADC Noise by Reference Tuning in RRAM-Based Compute-In-Memory

Fuente: arXiv

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Hauptverfasser:	Wei, Ying-Hao, Wan, Zishen, Crafton, Brian, Spetalnick, Samuel, Raychowdhury, Arijit
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Emerging Technologies
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