PICTS: A Novel Deep Reinforcement Learning Approach for Dynamic P-I Control in Scanning Probe Microscopy

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Wei, Ziwei, Wei, Shuming, Zeng, Qibin, Lu, Wanheng, Liu, Huajun, Zeng, Kaiyang
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Materials Science Machine Learning Applied Physics
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2502.07326